Kung ang isang Flux paste ay naglalaman ng mga halogens ay hindi isang simpleng tanong na oo-o-hindi, ngunit depende sa mga partikular na uri ng halogen, mga antas ng nilalaman, at mga pamantayan ng sertipikasyon ng customer. Halimbawa, tahasang tinukoy ng IPC-J-STD-004B ang halogen-free bilang chlorine at bromine bawat isa ≤900ppm at ang kanilang kabuuang ≤1500ppm, habang ang ilang mga customer ng automotive electronics ay nangangailangan ng mas mahigpit na limitasyon ng chlorine ≤300ppm at bromine ≤500ppm. Nangangahulugan ito na sa panahon ng pagpili, dapat nating suriin ang mga ulat ng pagsubok ng halogen sa item ng TDS ayon sa item sa halip na tumingin lamang sa label na"walang halogen."

Ang pagsubok ng halogen-free flux paste ay hindi maaaring gawin sa pamamagitan ng visual na inspeksyon o simpleng test strips; dapat itong gumamit ng ion chromatography na sinamahan ng microwave-assisted water extraction. Ang susi ay ang katumpakan ng pagtimbang ng sample ay dapat na kontrolin sa loob ng ±0.1mg, at ang temperatura ng pagkuha ay dapat na mahigpit na nakatakda sa 95°C at panatilihing pare-pareho sa loob ng 30 minuto. Kung hindi, ang mababang temperatura ay magdudulot ng hindi sapat na pagkalusaw ng bromide, habang ang mataas na temperatura ay maaaring magdulot ng pagkabulok ng mga organikong halide at makagambala sa tuktok na hugis. Minsan ay nakatagpo kami ng isang batch na may mga pagbabago sa resulta ng pagsubok na hanggang 200ppm, na sa huli ay natuklasang sanhi ng pagtagas ng presyon dahil sa pagtanda ng singsing ng seal ng tangke ng pagkuha.

Kasama sa mga karaniwang error sa aktwal na operasyon ang paggamit ng deionized na tubig sa halip na ultrapure na tubig para sa dilution, hindi pagtupad sa pang-araw-araw na pag-activate ng IC instrument suppressor, at ang karaniwang curve na hindi sumasaklaw sa buong saklaw na 0.1–10ppm. Ang lahat ng ito ay magpapalala sa repeatability ng chloride ion peak area. Lalo na kapag ang background ng flux paste ay naglalaman ng trace ammonium chloride-type activators, kung ang karaniwang solusyon ay hindi pupunan ng parehong matrix nang sabay-sabay, ito ay magdudulot ng quantitative deviation na lumampas sa ±15%.

Para sa on-line na self-inspection, inirerekomenda na i-verify muna ang pagkakapare-pareho ng mga ulat ng pabrika ng supplier. Ang pamamaraan ay random na gumuhit ng tatlong flux paste mula sa parehong batch at magsagawa ng parallel extraction ayon sa pagkakabanggit. Kung ang RSD ay > 8%, dapat na isagawa ang muling pagsusuri at suriin kung 0.22μm pa rin ang sukat ng pore ng lamad ng filter at kung ang rate ng daloy ng mobile phase ay stable sa 1.0mL/min, dahil ang anumang pag-anod ng parameter ay maaaring maging sanhi ng pagbabago ng oras ng pagpapanatili ng bromide ion nang higit sa 0.3 minuto, sa gayon ay nakakaapekto sa katumpakan ng pagsasama.

Kung ang pagpaputi ng solder joints o leakage sa ICT testing ay nangyari pagkatapos ng stencil printing ng halogen-free flux paste, ito ay hindi nangangahulugang dahil sa sobrang mga halogens; ito ay maaari ding maging surface passivation sanhi ng rosin residue oxidation o hindi sapat na nitrogen purity. Sa oras na ito, dapat munang gamitin ang FTIR upang ihambing ang mga pagbabago sa intensity ng mga peak na katangian ng C=O sa solder joint area bago at pagkatapos ng paglilinis, at pagkatapos ay magpasya kung sisimulan ang proseso ng muling pagsusuri ng halogen, upang maiwasan ang maling paghusga sa mga problema sa proseso bilang mga problema sa materyal.