Sama ada pes fluks mengandungi halogen bukanlah soalan ya-atau-tidak yang mudah, tetapi bergantung pada jenis halogen tertentu, tahap kandungan dan piawaian pensijilan pelanggan. Contohnya, IPC-J-STD-004B dengan jelas mentakrifkan bebas halogen sebagai klorin dan bromin setiap ≤900ppm dan jumlahnya ≤1500ppm, manakala sesetengah pelanggan elektronik automotif memerlukan had klorin ≤300ppm dan bromin yang lebih ketat ≤500ppm. Ini bermakna semasa pemilihan, kita mesti menyemak laporan ujian halogen dalam item TDS mengikut item dan bukannya hanya melihat label"bebas halogen"

Menguji pes fluks bebas halogen tidak boleh dilakukan dengan pemeriksaan visual atau jalur ujian mudah; ia mesti menggunakan kromatografi ion digabungkan dengan pengekstrakan air berbantukan gelombang mikro. Perkara utama ialah ketepatan penimbang sampel mesti dikawal dalam ±0.1mg, dan suhu pengekstrakan mesti ditetapkan dengan ketat kepada 95°C dan dikekalkan malar selama 30 minit. Jika tidak, suhu rendah akan menyebabkan pembubaran bromida tidak mencukupi, manakala suhu tinggi boleh menyebabkan penguraian halida organik dan mengganggu bentuk puncak. Kami pernah menghadapi kumpulan dengan turun naik keputusan ujian sehingga 200ppm, yang akhirnya didapati berpunca daripada kebocoran tekanan akibat penuaan gelang pengedap tangki pengekstrakan.

Kesilapan biasa dalam operasi sebenar termasuk menggunakan air ternyahion dan bukannya air ultratulen untuk pencairan, gagal melakukan pengaktifan harian bagi penindas instrumen IC, dan lengkung standard tidak meliputi julat 0.1–10ppm penuh. Semua ini akan memburukkan kebolehulangan kawasan puncak ion klorida. Terutama apabila latar belakang tampal fluks mengandungi pengaktif jenis ammonium klorida surih, jika penyelesaian standard tidak ditambah dengan matriks yang sama serentak, ia akan menyebabkan sisihan kuantitatif melebihi ±15%.

Untuk pemeriksaan sendiri dalam talian, adalah disyorkan untuk terlebih dahulu mengesahkan ketekalan laporan kilang pembekal. Kaedahnya ialah dengan melukis tiga pes fluks secara rawak daripada kumpulan yang sama dan melakukan pengekstrakan selari masing-masing. Jika RSD > 8%, ujian semula mesti dijalankan dan semak sama ada saiz liang membran penapis masih 0.22μm dan sama ada kadar aliran fasa mudah alih stabil pada 1.0mL/min, kerana sebarang hanyut parameter boleh menyebabkan masa pengekalan ion bromida beralih lebih daripada 0.3 minit, sekali gus menjejaskan ketepatan penyepaduan.

Jika pemutihan sambungan pateri atau kebocoran dalam ujian ICT berlaku selepas cetakan stensil pes fluks bebas halogen, ia tidak semestinya disebabkan oleh halogen yang berlebihan; ia juga mungkin pempasifan permukaan yang disebabkan oleh pengoksidaan sisa rosin atau ketulenan nitrogen yang tidak mencukupi. Pada masa ini, FTIR harus digunakan terlebih dahulu untuk membandingkan perubahan keamatan puncak ciri C=O di kawasan sambungan pateri sebelum dan selepas pembersihan, dan kemudian memutuskan sama ada untuk memulakan proses ujian semula halogen, untuk mengelakkan salah menilai masalah proses sebagai masalah material.