Niat asal untuk mempromosikan pes pateri tidak bersih adalah untuk mengurangkan pelaburan dalam peralatan pembersihan dan penggunaan bahan kimia berasaskan air, tetapi masalah peningkatan rintangan sentuhan yang disebabkan oleh sisa pasca pematerian semasa ujian ICT telah berulang kali disahkan pada beberapa barisan pengeluaran pelanggan. Selepas faundri elektronik pengguna bertukar kepada pes pateri tanpa bersih, hasil lulus pertama ICT menurun daripada 99.2% kepada 97.6%, purata masa ujian semula meningkat sebanyak 3.8 saat setiap papan, secara langsung meningkatkan permintaan peruntukan tenaga kerja untuk barisan ujian; kami mengesyorkan agar anda mengutamakan pelarasan gred aktiviti tampal pateri daripada ROL0 kepada ROL1, yang sesuai untuk senario dengan pakej melebihi 0201 dan tekanan probe ICT ≥0.3N, boleh mengurangkan kadar penghijrahan ion sisa sebanyak 42%, mengurangkan jam kerja tahunan salah penilaian ujian semula setiap baris, dan mengesahkan semula risiko bersama yang diperlukan oleh 4200 jam sahaja. daripada 5 model utama, dengan kitaran ≤3 hari.
Nisbah kawasan bukaan stensil dinaikkan daripada 0.65 kepada 0.72 tradisional, digabungkan dengan kawalan tekanan squeegee bertingkat (0.45MPa pada peringkat cetakan pertama, 0.38MPa pada peringkat kedua), yang boleh mengurangkan turun naik kadar pemindahan tampal pateri secara berkesan, dan amat sesuai untuk peranti 0.4mm pitch.3mm dan 0.4mm pitch BGA0 QFN. Pada barisan pengeluaran elektronik automotif, purata ketinggian pengumpulan sisa pasca pematerian yang diukur telah dikurangkan daripada 8.3μm kepada 5.1μm, kadar salah sangka ICT menurun sebanyak 1.1 mata peratusan, bersamaan dengan penjimatan tahunan sebanyak 32,000 yuan dalam kos ujian semula manual. Walau bagaimanapun, perlu diingatkan bahawa skim ini meningkatkan keperluan untuk kestabilan ketegangan stensil; jika kekerapan pengesanan ketegangan sedia ada kurang daripada 2 kali setiap syif, ia boleh menyebabkan risiko kekurangan pateri tempatan.
Kelajuan angin dalam zon penyejukan pematerian aliran semula dikurangkan daripada 1.8m/s kepada 1.3m/s, digabungkan dengan pengurangan 5℃ dalam suhu puncak di bawah atmosfera nitrogen (235℃→230℃), yang boleh mengurangkan penjanaan produk penguraian terma fluks tanpa mengorbankan kekuatan sendi pateri. Ia sesuai untuk talian SMT dengan kepekatan nitrogen ≥95% dan keluaran harian ≥1200 papan. Selepas penggunaan pada barisan pengeluaran modul kuasa, kadar penggera palsu ujian probe terbang menurun daripada 0.87% kepada 0.33%, mengelakkan kerugian tahunan sebanyak 26,000 yuan daripada kerja semula yang salah. Satu-satunya kekangan pelaksanaan adalah untuk mengesahkan bahawa penyongsang kipas penyejuk sedia ada menyokong pelarasan langkah 0.1Hz, jika tidak pengawal luaran perlu dipasang.
Kitaran pembersihan probe lekapan ujian ICT dipendekkan daripada setiap 4 jam kepada setiap 2.5 jam, dan pengelap kapas isopropil alkohol digunakan dan bukannya pembersihan udara termampat. Ia sesuai untuk senario dengan diameter probe ≥0.6mm dan ketumpatan titik ujian >80 mata/dm². Selepas pelaksanaan pada barisan pengeluaran modul wayarles, sisihan piawai galangan sentuhan probe mengecil daripada 12.7Ω kepada 6.3Ω, mengurangkan bilangan tayangan semula ujian berfungsi yang disebabkan oleh sentuhan lemah sebanyak 217 kali sebulan, dengan faedah tahunan sebanyak 19,000 yuan. Walau bagaimanapun, rekod penggantian swab kapas mesti disertakan serentak dalam senarai semak pemeriksaan MES, jika tidak terdapat risiko tertinggal pelaksanaan.
Tambah 100% pemeriksaan pensampelan pencemaran ion permukaan papan selepas pengesanan AOI (kaedah IPC-J-STD-001 Lampiran D), dengan nisbah pensampelan ditetapkan sebagai 3 papan pertama + 2 papan terakhir + 3 papan rawak di tengah-tengah setiap kelompok. Ia sesuai untuk barisan pengeluaran utama dengan pengeluaran bulanan melebihi 500,000 papan. Berdasarkan ini, barisan pengeluaran boleh pakai pintar mengenal pasti masalah anjakan pengedaran berat molekul resin rosin antara kelompok daripada 2 pembekal tampal pateri. Selepas penukaran kelompok tepat pada masanya, kandungan sisa ion klorida selepas pematerian telah distabilkan di bawah 0.28μg/cm², mengelakkan kegagalan ICT kelompok berikutnya, dan dianggarkan dapat mengelakkan potensi kerugian aduan pelanggan melebihi 150,000 yuan. Ambang pelaksanaan hanya memerlukan pembelian kromatografi ion mudah alih (harga seunit 42,000 yuan) dan melatih 1 pemeriksa.
Akhir sekali, longgarkan ambang litar terbuka dalam program ujian ICT daripada 20Ω kepada 35Ω, dan benamkan modul analisis aliran rintangan sentuhan dalam perisian (merekodkan titik rintangan tinggi TOP5 secara automatik setiap papan). Ia sesuai untuk barisan pengeluaran yang telah menggunakan sistem kebolehkesanan data ujian. Selepas pelaksanaan pada barisan pengeluaran papan kawalan utama stesen pangkalan, kadar salah penilaian menurun sebanyak 0.9%, dan ia boleh memberi amaran tentang arah aliran haus siasatan 12 jam lebih awal, menjimatkan 168 jam masa henti penentukuran lekapan setiap tahun. Walau bagaimanapun, ia mesti dipastikan bahawa semua titik ujian mempunyai reka bentuk redundansi dwi-prob, jika tidak, ia mungkin menutupi kecacatan litar terbuka sebenar.
