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Q

QFN 패키지 솔더링, 솔더 페이스트 스텐실 조리개 설계 및 리플로우 프로세스

A
QFN 패드는 쉽게 솔더 볼과 보이드를 생성합니다. 공극이 적은 고운 분말 페이스트를 선택하십시오. 중앙 패드 구멍을 줄이고 페이스트가 퍼지는 것을 방지하기 위해 솔더 마스크 댐을 남겨 둡니다. 천천히 예열하고, 플럭스가 완전히 휘발되도록 램프를 제어하고, 최고 온도를 페이스트와 일치시킵니다. 페이스트가 압착되지 않도록 배치 압력을 적당한 수준으로 유지하십시오. 질소 분위기는 공극을 감소시킵니다. 생산 후 단면 샘플을 사용하여 공극률을 측정하고 매개변수를 계속 최적화합니다.

QFN 패키지의 솔더링 신뢰성은 SMT 스텐실 애퍼처 크기, 솔더 페이스트 인쇄 프로필 및 리플로우 프로필이라는 세 가지 요소의 동적 매칭에 직접적으로 좌우됩니다. 스텐실 애퍼처는 IPC-7525B의 부록 A에 있는 QFN 패드 애퍼처 면적비(면적비)의 정의를 엄격히 따라야 합니다. 이는 패드 애퍼처 면적과 애퍼처 벽 표면적의 비율입니다. 표준에서는 이 비율이 0.66보다 낮아서는 안 된다고 명시하고 있습니다. 그러나 심천의 자동차 등급 생산 라인에서 실제 측정한 결과 개구율이 0.72로 설정되었을 때 냉간 납땜 접합률이 0.018%로 안정적으로 유지되는 것으로 나타났습니다. 0.62로 떨어지면 콜드 솔더 조인트 비율이 0.21%로 뛰고, 불량의 85%가 QFN 하단 중앙 패드에 집중됐다. 이는 0.12mm의 스텐실 두께와 애퍼처 길이 및 폭의 0.05mm 감소로 인한 솔더 페이스트 볼륨의 19% 감소와 밀접한 관련이 있습니다.

스텐실의 레이저 절단 정확도는 ±0.015mm 이내로 제어되어야 합니다. 그렇지 않으면 0.3mm 피치 QFN의 인접한 조리개가 브리징되기 쉽습니다. 우리는 공급업체가 배송한 스텐실 가장자리에서 0.02mm를 초과하는 버를 발견한 적이 있으며 첫 번째 제품 검사 중에 3개의 솔더 브리지를 발견했습니다. 재작업 후에도 0.04mm 마이크로 브리지가 여전히 존재했습니다. 마지막으로 우리는 이를 전기주조 스텐실로 교체하고 EDM 연마 공정을 추가하여 QFN 장치 조리개의 측벽 거칠기 Ra≤0.8μm에 대한 IPC-7525B의 표 4-2 요구 사항을 충족해야 했습니다. 한편, 모든 조리개는 12°±2°로 제어되는 테이퍼 각도로 모따기되어야 합니다. 그렇지 않으면 솔더 페이스트 방출 잔여물 비율이 37% 증가하고 인쇄 일관성 CPK가 1.67에서 0.92로 떨어집니다.

리플로우 솔더링 영역 설정은 솔더 페이스트 제조업체의 TDS 데이터와 긴밀하게 일치해야 합니다. 일반적으로 사용되는 SAC305 솔더 페이스트를 예로 들면 활성 창은 150℃~183℃이고 담금 시간은 120±15초로 유지되어야 합니다. 90초 미만이면 잔류 플럭스가 기준을 초과하여 AOI 잘못된 경보 비율이 40% 증가합니다. 150초를 초과하면 QFN 열 패드 아래 솔더 페이스트의 산화가 강화됩니다. X-Ray 검사 결과 보이드 면적 비율이 14%에서 31%로 악화되는 것으로 나타났습니다. 이는 IPC-A-610E 클래스 2의 열 패드 보이드에 대한 하드 한계인 25% 이하를 초과한 것입니다. 피크 온도는 245℃~255℃ 사이로 고정되어야 하며 일부 장비의 기본값에 따라 260℃로 설정되어서는 안 됩니다. JEDEC J-STD-020 표 4-1에는 QFN 패키지 장치의 최고 내열 온도가 260℃±5℃라고 명시되어 있지만 이는 솔더 조인트 용융 온도가 아닌 장치 본체를 의미합니다. 실제 솔더 조인트 용융은 217℃~220℃에서 발생합니다. 최고 온도가 지나치게 높으면 구리 패드 IMC 층의 성장이 가속화되어 200회의 열 주기 후 전단 강도가 33% 감소하게 됩니다.

컨베이어 속도 설정은 가열 효율과 반대로 보정되어야 합니다. 퍼니스 온도 설정이 변경되지 않은 경우 컨베이어 속도가 0.1m/분 감소할 때마다 QFN 하단에 있는 솔더 조인트의 온도 구배가 0.8℃/mm 증가합니다. 한때 동관의 한 공장에서 컨베이어 속도가 1.0m/min에서 0.85m/min으로 급격하게 떨어지는 것을 경험했는데, 이로 인해 QFN 열 패드 중앙 영역의 냉각 속도가 가속화되어 기둥형 입자가 거칠어졌습니다. 평균 추력 시험값이 38N에서 26N으로 급락했는데, 이는 IPC-7095C Annex B의 QFN 5×5mm 패키지의 최소 추력 임계값인 32N보다 낮아졌다. 이어 냉각존 전면부에 0.3m 길이의 질소 서냉 구간을 삽입해 냉각 기울기를 6.2℃/s에서 3.8℃/s로 줄이고 추력은 35N 이상으로 회복했다.

스텐실 청소 빈도는 주변 습도와 연결되어야 합니다. 작업장의 상대 습도가 >60%RH인 경우 스텐실 뒷면은 인쇄 기판 15개마다 IPA + 초음파를 사용하여 청소해야 합니다. 그렇지 않으면 조리개 내벽에 흡착된 수증기가 솔더 페이스트 붕괴율을 22% 증가시킵니다. 특히 QFN 열 패드의 0.5mm×0.5mm 조리개에서는 초승달 모양의 납땜 결함이 매우 쉽게 형성됩니다. 이 결함은 리플로우 후 AOI로 식별할 수 없으며 X-Ray 샘플링 검사를 통해서만 감지할 수 있습니다. 습도가 40%RH 미만인 경우 솔더 페이스트 용매의 급속한 휘발로 인한 조리개 막힘을 방지하기 위해 25개 보드마다 청소가 필요합니다. 우리는 한때 QFN 장치 배치의 ICT 테스트 개방 회로 비율을 0.47%로 비정상적으로 증가시켰는데, 이는 고객 승인 한계인 0.05%를 훨씬 초과했습니다.

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