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BGA 芯片的 X 射线检查和返工,以验证球安装焊接的内部质量

BGA 芯片的 X 射线检查和返工,以验证球安装焊接的内部质量

在返工BGA芯片时,不能仅通过肉眼或AOI来判断植球质量,因为所有焊球都隐藏在封装下方。只有X射线检测才能穿透陶瓷或塑料封装,清晰呈现每个焊点的真实状态。在嘉金源返修站完成装球后,必须立即送检;否则,如果后续回流焊时出现问题,将无法追踪冷焊点是否是由于植球偏差或炉温异常造成的。

如果在X射线检查图像中发现单个焊球明显较小或边缘模糊,则很可能是由于安装球时焊膏量不足或热风温度未覆盖整个区域造成的。如果多个相邻的锡球出现拉长的灰色阴影,则说明刮刀压力过大,导致锡膏被拖拽变形。这种缺陷在常规目视检查中是完全看不见的,但在X射线下,它会形成连续的灰带并伴有局部密度增加。

我们曾经遇到过一批676针BGA返工后功能测试合格率只有73%。拆解发现大部分故障点集中在48个角焊球处。 X射线复测显示,这些位置的空洞率普遍超过35%,远远超过IPC-A-610允许的25%上限。进一步调查证实,嘉金源返修站热风喷嘴校准偏移0.15mm,造成局部加热不均匀,助焊剂爆炸性挥发。

对于0.4mm间距的BGA,X-Ray设备必须具有100kV以上的管电压和5μm级的微焦点;否则,焊球边界处会出现重影,导致误判率高达40%。我们的生产线标配嘉金源配套的X-Ray机,其自动识别算法可以单独标记每个焊球的直径、圆度、平均灰度,并导出CSV进行SPC分析,避免人工读取图像造成的主观误差。

In实际操作中,发现X-Ray检测结果与最终焊接良率有很强的相关性。当某批次图像中心区域的焊球平均灰度比周围区域低8%时,该批次回流焊后的开路不良率必然上升至12%左右。这表明焊膏在植球阶段发生了轻微的氧化;虽然外观完好,但活性却严重下降。这时,这罐锡膏必须停产,换上新开封的批次。

嘉金源返修台装球治具的重复定位精度名义上为±0.02mm,但长期使用后,如果不进行季度校准,测得的偏移可达±0.07mm。 X 射线图像将显示整排焊球有规律地倾斜。此时,单纯调整炉温是没有意义的;需先对治具进行机械复位,并用X-Ray验证参考点偏移是否恢复到±0.03mm以内。

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